ICS 01.040.17;17.040.40 CCS J 42 中华人民共和国国家标准 GB/T33523.73—2025/IS025178-73:2019 产品几何技术规范（GPS) 表面结构： 区域法 第73部分：实物标准表面缺陷的 术语和定义 Geometrical product specifications (GPS)-Surface texture:Areal- Part 73: Terms and definitions for surface defects on material measures (ISO25178-73:2019,IDT) 2025-05-30发布 2025-09-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T33523.73—2025/ISO25178-73:2019 目 次 前言 引言 范围 1 2 规范性引用文件 3术语和定义 3.1 一般术语定义 缺陷分类的术语和定义 3.2 3.3 缺陷处理方法的术语和定义 附录A（资料性） 污渍与异色 A.1 概述 A.2 污渍分类 A.3 污渍的处理 附录B（资料性）与GPS矩阵模型的关系 B.1 概述 B.2 关于标准及其使用的信息 B.3在GPS矩阵模型中的位置 B.4相关的标准 参考文献· 索引· GB/T33523.73—2025/ISO25178-73:2019 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件是GB/T33523《产品几何技术规范（GPS）表面结构：区域法》的第73部分。GB/T33523 已经发布了以下部分： 第1部分：表面结构的表示法； 第2部分：术语、定义及表面结构参数； 一第3部分：规范操作集； 一第6部分：表面结构测量方法的分类； 第70部分：实物测量标准； 第71部分：软件测量标准； 第72部分：XML文件格式x3p； 第73部分：实物标准表面缺陷的术语和定义； 一第600部分：区域形貌测量方法的计量特性； -第601部分：接触（触针)式仪器的标称特性； 第602部分：非接触（共聚焦色差探针)式仪器的标称特性； 一第603部分：非接触（相移干涉显微)式仪器的标称特性； 第604部分：非接触（相干扫描干涉)式仪器的标称特性； 第605部分：非接触（点自动对焦探针）式仪器的标称特性； 第606部分：非接触（变焦)式仪器的标称特性； 第700部分：区域形貌测量仪器的校准、调整和验证； 一第701部分：接触（触针)式仪器的校准与测量标准。 本文件等同采用ISO25178-73：2019《产品几何技术规范（GPS）表面结构：区域法第73部分： 实物标准表面缺陷的术语和定义》。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国产品几何技术规范标准化技术委员会（SAC/TC240)提出并归口。 本文件起草单位：中国计量科学研究院、青岛城市学院、中机研标准技术研究院（北京)有限公司、 中国科学院上海光学精密机械研究所、上海大学、浙江大学、常熟中科世纪生物科技有限公司、中机生产 力促进中心有限公司。 本文件主要起草人：施玉书、赵健、朱悦、苏榕、郎岩梅、王陈、黄永玲、张宗政、杨威、翁兆楠。 GB/T33523.73—2025/ISO25178-73:2019 引言 随着国家产品质量提升计划的实施，对产品设计、制造、度量和检验过程中使用的统一规范或原则 的需求越来越迫切。原有产品几何技术规范中表面结构的表示方法及相关标准已不能满足产品制造过 程中的表面质量控制要求。 GB/T33523《产品几何技术规范（GPS）表面结构：区域法》基于新一代GPS产品几何规范体 系，通过数字化测量技术、软件分析技术及计量评定等手段，构建一套全新的三维表面结构测量与分析 的推荐性国家标准。GB/T33523在提出表面结构表示法、表面结构参数及规范操作集的基础上，分析 了表面结构测量的方法，给出了使用的测量技术及仪器的标称特性。特别是，GB/T33523在涵盖接触 式测量仪器的同时，重点引人了在高精度测量应用中具有重要价值但缺乏标准支撑的多种非接触式测 量仪器。GB/T33523还规范了实物测量和软件测量标准，给出了软件文件标准和表面结构测量的计 量特性。GB/T33523实现了从二维轮廓测量到三维表面结构测量的跨越，为GPS产品几何规范体系 提供了计量测试支撑。 本文件基于以下前提，一个实物标准具有真实的几何表面，具有一个相关的精确已知量，当表面结 构测量仪器在校准和设置该仪器期间通过一次或多次操作测量实物标准时会使用该量，使用术语“缺 陷”表示实际表面偏离理想标称表面。本文件不涉及除几何缺陷外可能出现在实物标准表面的任何类 别的缺陷，需注意同GB/T15757一2002《产品几何量技术规范（GPS）表面缺陷术语、定义及参数》 中“缺陷”定义的区别。 本文件通过参考几何形状而不是成因来定义“缺陷”。本文件规定缺陷处理方式的术语，不对缺陷 处理方式的特定应用情况进行规定。本文件认为缺陷是几何测量表面的一部分，而不是整个表面的属 性。本文件中提出的定义不适用于功能表面。 GB/T33523拟由17个部分构成。 一第1部分：表面结构的表示法。旨在规定产品技术文件（例如图纸、规范、合同和报告）中利用 图形符号表示区域表面结构的规则。 第2部分：术语、定义及表面结构参数。旨在规定用区域法评定表面结构的术语、定义和参数。 -第3部分：规范操作集。旨在规定适用于区域法评定表面结构（尺度限定表面）的完整规范操 作集。 一一第6部分：表面结构测量方法的分类。旨在规定主要用于表面结构测量方法的分类体系，定义 了三类方法，描述三类方法之间的关系，并对具体方法做了简要说明。 一一第70部分：实物测量标准。旨在规定用于定期验证和调整区域法表面结构测量仪器的实物测 量标准的特性。 第71部分：软件测量标准。旨在规定用于测量仪器软件校验的S1型和S2型软件测量标准 - (标准具)的术语定义。 一一第72部分：XML文件格式x3p。旨在规定用于存储和交换形貌及轮廊数据的XML文件格 式x3p。 —第73部分：实物标准表面缺陷的术语和定义。旨在界定ISO5436-1和ISO25178-70中规定 的实物标准及校准样块表面上可呈现出的几何缺陷类别的定义，定义对这些缺陷处理方法的 术语。 一一第600部分：区域形貌测量方法的计量特性。旨在规定用于表面形貌测量的区域法测量仪器 的计量特性。 AI GB/T33523.73—2025/IS025178-732019 一一第601部分：接触（触针)式仪器的标称特性。旨在规定表面结构区域法接触（触针)式仪器的 标称特性。 第602部分：非接触（共聚焦色差探针)式仪器的标称特性。旨在规定使用基于白光轴向色散 特性的共聚焦色差探针测量表面结构的非接触式仪器的设计与计量特性。 一第603部分：非接触（相移干涉显微)式仪器的标称特性。旨在规定相移干涉法(PSI)轮廓和区 域表面结构测量显微镜的计量特性。 第604部分：非接触（相干扫描干涉)式仪器的标称特性。旨在规定用于表面高度三维映射的 相干扫描干涉(CSI)测量系统的计量特性。 第605部分：非接触（点自动对焦探针)式仪器的标称特性。旨在规定使用点自动对焦探针测 量表面结构的非接触式仪器的计量特性。 一第606部分：非接触（变焦)式仪器的标称特性。旨在规定使用变焦（FV)传感器测量表面结构 的非接触式仪器的设计与计量特性。 第700部分：区域形貌测量仪器的校准、调整和验证。旨在规定用于校准、调整和验证 ISO25178-600中所述的区域形貌测量仪器共性计量特性的通用程序。 第701部分：接触（触针)式仪器的校准与测量标准。旨在规定区域法表面结构接触（触针)式 仪器用作测量标准的实物标准的特性，残余误差的评定方法，校准、验收和周期检定的检测 方法。 A GB/T33523.73—2025/ISO25178-73:2019 产品几何技术规范（GPS）表面结构 区域法第73部分：实物标准表面缺陷的 术语和定义 1范围 陷类别，给出了对这些缺陷处理方法的术语和定义。 本文件适用于以下应用场合： a）协助购买者或用户从制造商或供应商处购买表面计量的实物标准时，规范实物标准的标称特 性（理想几何特性）； b)1 使实物标准的用户能够制定其实物标准出现表面缺陷处理方法的规则，以使其测量不确定度 最小化； 注：在ISO/IEC170252017的7.2.1.1、7.2.1.3、7.3.1、7.8.5c)和7.8.5d)中需要此原则。 c）使校准实验室与用户关于送检实物标准表面缺陷的处理方法达成一致； d）指导实物标准的用户区别不同种类缺陷的显著性和重要性的差异； e）为其他GPS标准在选择测量位置区域，或规避的测量位置区域时提供参考。 2规范性引用文件 本文件没有规范性引用文件。 3术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1一般术语定义 3.1.1 被测表面 measuring surface 校准样块表面上用于测量的部分。 3.1.2 缺陷defect 《实物标准》测量标准器的部分几何要素（非理想表面），其几何形状和几何尺寸与公称要素（理想表 面)上的几何形状和几何尺寸偏差大于某些约定或规定的最大值，或者在没有任何此类约定或规定最大 值的情况下，大于制造测量标准器所用工艺的典型值或特征值。 注1：本文件所述测量标准器和实物标准指的是符合ISO5436-1和ISO25178-70规定的测量标准器