ICS 33.180.20 M 31 中华人民共和国国家标准 GB/T 33768—2017 通信用光电子器件可靠性试验方法 Reliability test method for optoelectronic devices used in telecommunications 2017-05-31发布 2017-12-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T 33768—2017 目 次 前言 III 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 般要求 4 4.1 试验类型 4.2 试验设备 4.3 试验环境 4.4 抽样方案 4.5 试验报告 详细要求 5 5.1 符合性试验 5.1.1 光电特性 5.1.2 外形尺寸 5.1.3 外部目检 5.2 机械完整性试验 5.2.1 机械冲击 5.2.2 变频振动 5.2.3 热冲击 5.2.4 光纤扭力 5.2.5 光纤侧向拉力 5.2.6 光纤拉力 5.2.7 引脚牢固性 10 5.2.8 连接器插拔耐久性 5.2.9 受力传输 12 5.3 环境试验 13 5.3.1 高温贮存 5.3.2 低温贮存. 5.3.3 温度循环 5.3.4 恒定湿热 5.3.5 抗潮湿循环 16 5.3.6 高温寿命 18 5.4 物理特性试验 19 5.4.1 内部水汽含量 19 5.4.2 密封性 20 5.4.3 ESD值 22 5.4.4 ESD抗扰度 24 GB/T33768—2017 5.4.5 芯片剪切力 27 5.4.6 可焊性 28 5.4.7 引线键合强度 30 5.4.8 可燃性 31 参考文献 34 GB/T33768—2017 前言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。 本标准由工业和信息化部（通信）归口。 新飞通光电子技术有限公司。 本标准起草人：赵先明、宋梦洋、江毅、龚雪、罗勇、邓智芳、杨春、武成宾、赵文玉、陈悦、 Ⅲ